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标题: 寄存器溢出算法 [打印本页]

作者: liyf 时间: 2012-1-16 16:55
标题: 寄存器溢出算法

　　最严重的有限字长效应是运行时寄存器溢出。寄存器溢出将在系统输出中引入严重的非线性失真，这导致滤波器不再可用。因此滤波器设计者必须消除或控制运行时寄存器溢出的影响同。有一些标准技术被用于控制这个问题。控制定点溢出误码率差的一个有效方法是使用2的补码形式2C数
　　,因而2C累加器能容忍中间步骤的运行时寄存器溢出。另一个用于抵制寄存器溢出潜在影响的常用方法是使用饱和算法。饷算法单元，通过检测溢出条件将累加器输出钳位在记数系统的量大正值或最小负值上。即N-bit 2C饱和算法单元的输出可表示为下式：

　　图1 饱和算法运算行为
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