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标题: IC开短路测试(open_short_test),编程器测试接触不良、开短路用的该是这个原理 [打印本页]

作者: liyf 时间: 2012-2-23 13:55
标题: IC开短路测试(open_short_test),编程器测试接触不良、开短路用的该是这个原理
IC开短路测试(open_short_test)又叫continuity test 或contact test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有短路，及在芯片封装时是否missing bond wires.通常都会被放测试程序的最前面.它还能发现测试时接触是否良好，探针卡或测试座是否有问题.

开短路测试的测试原理比较简单，分open_short_to_VDD 测试和open_short_to_VSS测试.一般来说芯片的每个引角都有泄放或说保护电路,是两个首尾相接的二极管,一端接VDD,一端接VSS。
信号是从两个二极管的接点进来.测试时,先把芯片的VDD引脚接0伏(或接地),再给每个芯片引脚供给一个100uA到500uA从测试机到芯片的电流,电流会经上端二极管流向VDD（0伏），然后测引脚的电压,正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,我们一般设上限为1.5伏，下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VDD测试.

open_short_to_VSS测试的原理基本相同.同样把先VDD接0伏，然后再给一个芯片到测试的电流,电流由VSS经下端二级管流向测试机.然后测引脚的电压,同样正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,只是电压方向相反,上限还是为1.5伏，下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VSS测试.

所以对测试机里的测试器件来说,只要能给电流测电压的器件都能做开短路测试.只是精度有差异,效率有高低.

编程器测试接触不良、开短路用的该是这个原理，通过检测那个电压变化，只是这个小电压测试起来有点麻烦，采用模拟方式倒是容易实现，数字方式必须进行放大处理1或者0

作者: ason.jens 时间: 2013-2-1 22:59
学习了，谢谢

作者: 浩文 时间: 2013-6-5 22:39
模拟开关+模数转换？

作者: liyf 时间: 2013-6-5 22:49

浩文发表于 2013-6-5 22:39
模拟开关+模数转换？

没那么复杂

作者: thlz313 时间: 2013-6-5 23:30
难道每个引脚都来个电流源？模拟方式终归要转成数字信号啊？

作者: 浩文 时间: 2013-6-5 23:37
那么多脚都单独设计一个电路？模拟方式的电压信号终归要变成数字信号给MCU啊

作者: liyf 时间: 2013-6-6 00:14

浩文发表于 2013-6-5 23:37
那么多脚都单独设计一个电路？模拟方式的电压信号终归要变成数字信号给MCU啊

作者: 浩文 时间: 2013-6-6 12:02

作者: liyf 时间: 2013-6-6 12:58

浩文发表于 2013-6-6 12:02

拆个全驱的，电路也没有每个pin都有模拟处理电路啊

作者: 浩文 时间: 2013-6-6 19:28
拆了个全驱的，用的FPGA xilinx xcs05xl vq100，这个不懂了

作者: liyf 时间: 2013-6-6 20:12

浩文发表于 2013-6-6 19:28
拆了个全驱的，用的FPGA xilinx xcs05xl vq100，这个不懂了

什么编程器？

作者: 浩文 时间: 2013-6-6 20:41
XELTEK superpro 3000u ，不是自己的，找领导借出来拆了

作者: 浩文 时间: 2013-6-6 20:46
主控芯片看不出来是什么，去不挂掉了

作者: liyf 时间: 2013-6-6 21:44
他这是arm+fpga架构，你看看拆解帖，有介绍

作者: shangdawei 时间: 2013-7-22 14:50
学习了，谢谢

作者: maithon 时间: 2013-11-16 21:24
听说现在用数字法，也能检测开短路，就是输出个高电平，然后定期扫描电压，通过电压降时间常数来估计IC脚有无接触良好。

作者: liyf 时间: 2013-11-16 22:13

maithon 发表于 2013-11-16 21:24
听说现在用数字法，也能检测开短路，就是输出个高电平，然后定期扫描电压，通过电压降时间常数来估计IC脚有 ...

原来也有人这么和我说过，但是觉得这么做还是有点欠缺什么
研议的好像做的更好些

作者: shangdawei 时间: 2014-11-12 00:06
有没有具体的实现电路可以参考 ?

作者: liyf 时间: 2014-11-12 08:21

shangdawei 发表于 2014-11-12 00:06
有没有具体的实现电路可以参考 ?

通过编程器来抠出那部分电路来，需要理解编程器的实现这个的原理，现在还不能确认哪块电路，也就无从解说原理了

作者: shangdawei 时间: 2014-11-12 15:30
期待楼主有更一步的进展

作者: shangdawei 时间: 2014-11-22 21:54
3000U 部分电路, 这里运放和三极管是用来提供电流吗 ?
看图只能用来吸收电流, 这个电流可以通过 VDAC 来控制 ?

如果是吸收电流, 那么测试的应该是引脚和GND之间的二极管吧 ?

作者: liyf 时间: 2014-11-23 07:59

shangdawei 发表于 2014-11-22 21:54
3000U 部分电路, 这里运放和三极管是用来提供电流吗 ?
看图只能用来吸收电流, 这个电流可以通过 VDAC 来 ...

你这电路画全了吗？光是以局部电路很难定位功能。
光是看这部分我倒是觉得像是pin保护用，通过vdac控制的电压输出实时控制pin的嵌位电压，这样做比固定嵌位电压有很多好处

作者: shangdawei 时间: 2014-11-23 09:45

作者: shangdawei 时间: 2014-11-23 09:49
VDAC 应该是控制三极管的导通程度, 从而控制三极管 Ic 吧

作者: liyf 时间: 2014-11-23 12:23

shangdawei 发表于 2014-11-23 09:49
VDAC 应该是控制三极管的导通程度, 从而控制三极管 Ic 吧

通过比较器实现超过嵌位电压就向地释放

作者: shangdawei 时间: 2014-11-23 14:28
也就是说箝位电压不会超过 VDAC 或者 VCCIO (VDAC > VCCIO ) ?

作者: shangdawei 时间: 2014-11-23 14:43

500P 没有这个控制部分了, 直接箝位到 VCCIO, 而 VCCIO 是可以调整的, 效果一样

作者: liyf 时间: 2014-11-23 17:37

shangdawei 发表于 2014-11-23 14:43
500P 没有这个控制部分了, 直接箝位到 VCCIO, 而 VCCIO 是可以调整的, 效果一样

嵌位电压该是指A端的电压，也就是vccio+0.7

作者: cmjx 时间: 2017-3-18 00:16
我是来骗银子的。

作者: madmike 时间: 2018-4-25 18:05

我就是支持你啊

作者: Kevin 时间: 2020-4-21 11:45
楼主，帖子里面的原理是source电流来测试电压，编程器没有办法提供负电流啊。如果只考虑芯片与测试座的连接关系，是不是可以通过force 0.7V电压，测试有无电流来判断

作者: muelfox 时间: 2021-7-2 13:02

谢谢分享, 一切为了银子

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