IC开短路测试(open_short_test),编程器测试接触不良、开短路用的该是这个原理

shangdawei · 发表于 2014-11-23 09:45:48

liyf · 发表于 2014-11-23 07:59:33

shangdawei 发表于 2014-11-22 21:54
3000U 部分电路, 这里运放和三极管是用来提供电流吗 ?
看图只能用来吸收电流, 这个电流可以通过 VDAC 来 ...

你这电路画全了吗？光是以局部电路很难定位功能。
光是看这部分我倒是觉得像是pin保护用，通过vdac控制的电压输出实时控制pin的嵌位电压，这样做比固定嵌位电压有很多好处

shangdawei · 发表于 2014-11-22 21:54:48

3000U 部分电路, 这里运放和三极管是用来提供电流吗 ?
看图只能用来吸收电流, 这个电流可以通过 VDAC 来控制 ?

如果是吸收电流, 那么测试的应该是引脚和GND之间的二极管吧 ?

shangdawei · 发表于 2014-11-12 15:30:30

期待楼主有更一步的进展

liyf · 发表于 2014-11-12 08:21:53

shangdawei 发表于 2014-11-12 00:06
有没有具体的实现电路可以参考 ?

通过编程器来抠出那部分电路来，需要理解编程器的实现这个的原理，现在还不能确认哪块电路，也就无从解说原理了

shangdawei · 发表于 2014-11-12 00:06:50

有没有具体的实现电路可以参考 ?

liyf · 发表于 2013-11-16 22:13:41

maithon 发表于 2013-11-16 21:24
听说现在用数字法，也能检测开短路，就是输出个高电平，然后定期扫描电压，通过电压降时间常数来估计IC脚有 ...

原来也有人这么和我说过，但是觉得这么做还是有点欠缺什么
研议的好像做的更好些

maithon · 发表于 2013-11-16 21:24:43

听说现在用数字法，也能检测开短路，就是输出个高电平，然后定期扫描电压，通过电压降时间常数来估计IC脚有无接触良好。

shangdawei · 发表于 2013-7-22 14:50:34

学习了，谢谢

liyf · 发表于 2013-6-6 21:44:00

他这是arm+fpga架构，你看看拆解帖，有介绍

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