IC开短路测试(open_short_test),编程器测试接触不良、开短路用的该是这个原理

shangdawei · 发表于 2013-7-22 14:50:34

学习了，谢谢

shangdawei · 发表于 2014-11-12 00:06:50

有没有具体的实现电路可以参考 ?

shangdawei · 发表于 2014-11-12 15:30:30

期待楼主有更一步的进展

shangdawei · 发表于 2014-11-22 21:54:48

3000U 部分电路, 这里运放和三极管是用来提供电流吗 ?
看图只能用来吸收电流, 这个电流可以通过 VDAC 来控制 ?

如果是吸收电流, 那么测试的应该是引脚和GND之间的二极管吧 ?

shangdawei · 发表于 2014-11-23 09:45:48

shangdawei · 发表于 2014-11-23 09:49:07

VDAC 应该是控制三极管的导通程度, 从而控制三极管 Ic 吧

shangdawei · 发表于 2014-11-23 14:28:13

也就是说箝位电压不会超过 VDAC 或者 VCCIO (VDAC > VCCIO ) ?

shangdawei · 发表于 2014-11-23 14:43:06

500P 没有这个控制部分了, 直接箝位到 VCCIO, 而 VCCIO 是可以调整的, 效果一样

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