IC开短路测试(open_short_test),编程器测试接触不良、开短路用的该是这个原理

liyf

IC开短路测试(open_short_test)又叫continuity test 或contact test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有短路，及在芯片封装时是否missing bond wires.通常都会被放测试程序的最前面.它还能发现测试时接触是否良好，探针卡或测试座是否有问题.

开短路测试的测试原理比较简单，分open_short_to_VDD 测试和open_short_to_VSS测试.一般来说芯片的每个引角都有泄放或说保护电路,是两个首尾相接的二极管,一端接VDD,一端接VSS。
信号是从两个二极管的接点进来.测试时,先把芯片的VDD引脚接0伏(或接地),再给每个芯片引脚供给一个100uA到500uA从测试机到芯片的电流,电流会经上端二极管流向VDD（0伏），然后测引脚的电压,正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,我们一般设上限为1.5伏，下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VDD测试.

open_short_to_VSS测试的原理基本相同.同样把先VDD接0伏，然后再给一个芯片到测试的电流,电流由VSS经下端二级管流向测试机.然后测引脚的电压,同样正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,只是电压方向相反,上限还是为1.5伏，下限为0.2伏,大于1.5伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VSS测试.

所以对测试机里的测试器件来说,只要能给电流测电压的器件都能做开短路测试.只是精度有差异,效率有高低.

编程器测试接触不良、开短路用的该是这个原理，通过检测那个电压变化，只是这个小电压测试起来有点麻烦，采用模拟方式倒是容易实现，数字方式必须进行放大处理1或者0

liyf

浩文 发表于 2013-6-5 22:39
模拟开关+模数转换？

没那么复杂

liyf

浩文 发表于 2013-6-5 23:37
那么多脚都单独设计一个电路？模拟方式的电压信号终归要变成数字信号给MCU啊

liyf

浩文 发表于 2013-6-6 12:02

拆个全驱的，电路也没有每个pin都有模拟处理电路啊

liyf

浩文 发表于 2013-6-6 19:28
拆了个全驱的，用的FPGA  xilinx xcs05xl vq100，这个不懂了

什么编程器？

liyf

他这是arm+fpga架构，你看看拆解帖，有介绍

liyf

maithon 发表于 2013-11-16 21:24
听说现在用数字法，也能检测开短路，就是输出个高电平，然后定期扫描电压，通过电压降时间常数来估计IC脚有 ...

原来也有人这么和我说过，但是觉得这么做还是有点欠缺什么
研议的好像做的更好些

liyf

shangdawei 发表于 2014-11-12 00:06
有没有具体的实现电路可以参考 ?

通过编程器来抠出那部分电路来，需要理解编程器的实现这个的原理，现在还不能确认哪块电路，也就无从解说原理了

liyf

shangdawei 发表于 2014-11-22 21:54
3000U 部分电路, 这里运放和三极管是用来提供电流吗 ?
看图只能用来吸收电流, 这个电流可以通过 VDAC 来 ...

你这电路画全了吗？光是以局部电路很难定位功能。
光是看这部分我倒是觉得像是pin保护用，通过vdac控制的电压输出实时控制pin的嵌位电压，这样做比固定嵌位电压有很多好处

liyf

shangdawei 发表于 2014-11-23 09:49
VDAC 应该是控制三极管的导通程度, 从而控制三极管 Ic 吧

通过比较器实现超过嵌位电压就向地释放