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[转载] 开短路测试

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发表于 2013-6-1 21:00:36 | 显示全部楼层 |阅读模式
资料来源于网络
pec[1].jpg
以 run pattern 方式測 open/short 的原理如下 :
1. 利用 tester pin electronics 的 dynamic load 來 force current, (VOH / VOH / VIL / IOL 設定如圖)
當 pinA 還未 connect to tester 時, Vout = Vref, 一旦 connect to tester 後, 200uA@2V 的電源
讓 IC diode 導通, Vout = 0.65V, 所以 pattern 為 compare "Z"
2. 假如 IC open, Vout=Vref, Vout=2V > VOH=1.2V, run pattern 時會 fail
3. 假如 IC short, Vout=0V (short 到其他 pin, 其他 pin voltage=0V), Vout=0V < VOH=0.2V, run pattern 時也會 fail

发表于 2013-6-1 21:53:05 | 显示全部楼层
这是测试引脚短路的电路?
 楼主| 发表于 2013-6-1 22:19:16 | 显示全部楼层
用的还是反向二极管特性
发表于 2013-6-6 12:26:37 | 显示全部楼层
原理是这个原理,不过每个Pin都是这个结构?
实际中还得和编程电压隔离
 楼主| 发表于 2013-6-6 12:56:54 | 显示全部楼层
浩文 发表于 2013-6-6 12:26
原理是这个原理,不过每个Pin都是这个结构?
实际中还得和编程电压隔离

这个不是结构是这样,而是硅芯片的共生特性,就像是寄生二极管效应像寄生电容一样
发表于 2013-11-16 21:26:54 | 显示全部楼层
liyf 发表于 2013-6-6 12:56
这个不是结构是这样,而是硅芯片的共生特性,就像是寄生二极管效应像寄生电容一样

不是,这个二极管是ESD保护二极管,一般的IC引脚都会加这个。
 楼主| 发表于 2013-11-16 22:15:01 | 显示全部楼层
maithon 发表于 2013-11-16 21:26
不是,这个二极管是ESD保护二极管,一般的IC引脚都会加这个。

是故意设计的?
发表于 2013-11-17 11:23:06 | 显示全部楼层
liyf 发表于 2013-11-16 22:15
是故意设计的?

是,对IC的引脚的静电保护,防止过压
 楼主| 发表于 2013-11-17 14:42:29 | 显示全部楼层
maithon 发表于 2013-11-17 11:23
是,对IC的引脚的静电保护,防止过压

一直以为是伴生的,靠检测这个来检查该脚是否有接入该二极管
发表于 2014-11-12 00:08:05 | 显示全部楼层
需要模拟开关来切换每一个引脚, 否则需要多套电路来处理 ?
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